作為我們leitech產品的一個補充,我們生產這種用于檢測光面孔的尺寸公差和深度。公差在±2um的范圍內。

這種光面規可以通過:High-resolution, Combi, Digi 和Traditional Gauge塞規的形式實現。

維護

對于此類產品,我們提供相應的拆換工具和校準工具。